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陶瓷電容內(nèi)外部失效因素

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陶瓷電容內(nèi)外部失效因素

2021-10-28 11:10:26

電容器是電子電路的主要元件,在電路中有著許許多多的應(yīng)用,比如在直流電源電路中做低頻濾波,在抗干憂電路中做高次諧波濾波,在振蕩電路中做諧振元件等等,但是電容器同時也是電路中發(fā)生故障z多的電器元器件之一。本文主要講述關(guān)于陶瓷電容內(nèi)外部失效因素,從各方面了解陶瓷電容。


陶瓷電容器失效的原因分為內(nèi)在因素和外部因素

陶瓷電容器

內(nèi)在因素為:

(1)陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞:導(dǎo)致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機或無機污染,燒結(jié)過程控制不當(dāng)?shù)取?br/>


(2)主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān),裂紋和危害與空洞相仿。


(3)分層:多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達1000℃以上。層間結(jié)合力不強,燒結(jié)過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。


外部因素主要為:

(1)溫度沖擊裂紋,主要由于器件在焊接特別是波峰焊時承受溫度沖擊所致,不當(dāng)返修也是導(dǎo)致溫度沖擊裂紋的重要原因。


遇到失效問題的時候,可以從這幾個方面尋找根源問題,確保陶瓷電容的安全使用。

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