有時(shí)我們聽(tīng)到客戶反映村田貼片電容容值會(huì)出現(xiàn)偏低，村田代理商深圳上美佳電子有限公司整理了出現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題的原因和解決方法。

1.測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

首先考慮測(cè)量條件，對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測(cè)試條件來(lái)測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別。

2.測(cè)量?jī)x器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果造成的影響。

大容量的電容(通常指1UF以上)測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降到很低,我們建議檢測(cè)人員將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際于待測(cè)電容上輸?shù)某鲭妷阂恢?。另外由于測(cè)試儀器的原因，加在電容兩端實(shí)際的輸出電壓與設(shè)定的測(cè)量電壓(理想電壓）實(shí)際上可能會(huì)有所出入。

3.影響高容量電容容值測(cè)量偏低的因素。

由于不同的測(cè)試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測(cè)試電容兩端的實(shí)際電壓變小。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中，我們有必要先使用萬(wàn)用表等工具測(cè)試夾具兩端的實(shí)際電壓，以確定加在測(cè)試貼片電容兩端的輸出電壓。

4.測(cè)量環(huán)境條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

村田貼片電容（X7R/X5R/）系列產(chǎn)品被稱為非溫度補(bǔ)償性元件,即在不同的工作溫度環(huán)境下,電容量會(huì)有比較顯著的變化，在不同的工作溫 度下，電容標(biāo)稱容值與實(shí)際容值之間的差異。例如，在40℃時(shí)的測(cè)試容量將比25℃時(shí)的測(cè)試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下,電容容值的測(cè)試值就會(huì)顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間,使材料處于穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境下再進(jìn)行容值測(cè)試。

5.村田貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料出現(xiàn)老化現(xiàn)象

 材料老化是指電容的容值隨著時(shí)間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因?yàn)閮?nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時(shí)間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對(duì)老化的材料施加高于材料居里溫度段時(shí)間后（建議進(jìn)行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時(shí)）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會(huì)回到原始的狀 態(tài)。材料將由此開(kāi)始老化的又一個(gè)循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。

 另外我們也可以通過(guò)把測(cè)試容量偏低的電容器浸在錫爐或者過(guò)回流焊后，再進(jìn)行測(cè)試，容值會(huì)恢復(fù)到正常范圍之內(nèi)?？蛻粼诋a(chǎn)品不上線前,事先進(jìn)行容值恢復(fù)工作，只需要將電容置PCB板上正常生產(chǎn)加工時(shí)，電容經(jīng)過(guò)回流焊或者波峰焊后，就會(huì)恢復(fù)到正常的容值范圍了。